電容衰減20%、MOSFET電阻增長30%、變壓器絕緣下降50%——單獨(dú)都能工作，同時發(fā)生則系統(tǒng)崩潰。傳統(tǒng)耐久測試測"什么時候保護(hù)動作"，不是"什么時候開始退化"。

廣州智品匯電子科技用整機(jī)耐久負(fù)載測試臺捕捉退化起點(diǎn)。多參數(shù)同步監(jiān)測：輸入功率、輸出效率、關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)溫度、關(guān)鍵元件參數(shù)。記錄參數(shù)漸變曲線，斜率突變點(diǎn)即退化加速起始。

非侵入式監(jiān)測：電容容量通過紋波電流相位關(guān)系間接計(jì)算，MOSFET電阻通過導(dǎo)通損耗推算，無需拆機(jī)。整機(jī)封閉狀態(tài)下獲取內(nèi)部健康狀態(tài)。耐久終點(diǎn)不是"跑了多少小時"，是"退化曲線是否進(jìn)入加速區(qū)"。自動擬合模型預(yù)測剩余壽命。非標(biāo)定制監(jiān)測方案，精準(zhǔn)匹配整機(jī)可靠性評估需求。