IEC 60384-14對(duì)交流電容器施加額定電壓的耐久性試驗(yàn)有規(guī)定。但薄膜電容在交流下的失效與直流完全不同——交流條件下介質(zhì)極化損耗增加，內(nèi)部溫升成為主因。直流耐壓全過(guò)的電容，交流跑幾百小時(shí)可能就鼓包了。

廣州智品匯電子科技的薄膜電容交流耐久測(cè)試臺(tái)用大功率線(xiàn)性功放輸出純正弦交流電壓，失真度小于1%，頻率50到400Hz可調(diào)，電壓最高1000V，電流最大50A。薄膜電容交流耐久測(cè)試臺(tái)一邊施加交流電壓，一邊實(shí)時(shí)采集電流波形，計(jì)算出電容在交流勵(lì)磁下的實(shí)際損耗功率。

薄膜電容交流耐久測(cè)試臺(tái)的紅外熱成像探頭正對(duì)電容，表面溫度分布實(shí)時(shí)顯示——出現(xiàn)局部熱點(diǎn)說(shuō)明該區(qū)域介質(zhì)在加速劣化。溫度超限自動(dòng)切斷輸出。

薄膜電容交流耐久測(cè)試臺(tái)的測(cè)試程序支持分段老化：額定電壓跑500小時(shí)、升到1.1倍跑200小時(shí)、再升到1.2倍跑100小時(shí)，每段結(jié)束時(shí)自動(dòng)測(cè)容量和損耗，畫(huà)出“老化時(shí)間-容量衰減”曲線(xiàn)?？蛻?hù)要求提供交流耐久數(shù)據(jù)時(shí)，直接發(fā)報(bào)告。